一种强电离辐射环境下的温度测量方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810442429.4

申请日：

2018-05-10

公开(公告)号：

CN108387327A

公开(公告)日：

2018-08-10

发明(设计)人：

杨俊亮张小威赵越朱晔李瑭

申请人：

申请人地址：

100049 北京市石景山区玉泉路19号乙

IPC主分类号：

G01K1100

IPC分类号：

代理机构：

北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200

代理人：

司立彬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-09-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 11/00 申请日:20180510
2018-08-10	公开	公开

共 50 条

[1]

一种强电离辐射环境下的温度测量方法及系统 [P].

杨俊亮 ;

张小威 ;

赵越 ;

朱晔 ;

李瑭 .

中国专利 :CN108387327B ,2024-02-13

[2]

一种强电离辐射环境下的温度测量系统 [P].

杨俊亮 ;

张小威 ;

赵越 ;

朱晔 ;

李瑭 .

中国专利 :CN208206333U ,2018-12-07

[3]

电离辐射剂量测量方法及系统 [P].

郭英蕾 ;

张庆贤 ;

葛良全 .

中国专利 :CN109876312A ,2019-06-14

[4]

一种电离辐射测量装置及其测量方法 [P].

周大为 ;

龚兵 ;

刘莹 ;

李龙 .

中国专利 :CN113311470B ,2021-08-27

[5]

强辐射环境下的免校准温度测量方法及装置 [P].

洪振旻 ;

王浩宇 ;

姜磊 ;

张宇宏 .

中国专利 :CN111105886A ,2020-05-05

[6]

基于强电磁脉冲环境下的信号测量方法及系统 [P].

陈昕 ;

王萌 ;

龙武 ;

杜哲 ;

郭云鹤 ;

杨欣 ;

史松伟 .

中国专利 :CN111162843A ,2020-05-15

[7]

一种酒类制造温度测量系统及温度测量方法 [P].

吴玲 ;

李彦中 ;

刘永东 ;

张娟 ;

王磊 .

中国专利 :CN118533322A ,2024-08-23

[8]

一种温度测量系统和温度测量方法 [P].

窦新玉 .

中国专利 :CN105784188B ,2016-07-20

[9]

测温仪及高温环境下的温度测量方法 [P].

谢自力 .

中国专利 :CN108489633A ,2018-09-04

[10]

一种温度测量装置及温度测量方法 [P].

王军 .

中国专利 :CN115295906B ,2022-12-20

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