探测器检测方法及系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010624851.9
申请日
2020-07-02
公开(公告)号
CN111965623A
公开(公告)日
2020-11-20
发明(设计)人
李坤仪 王吉
申请人
申请人地址
518051 广东省深圳市南山区桃源街道众冠红花岭工业区南区1区
IPC主分类号
G01S7497
IPC分类号
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
虞凌霄
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
检测装置及探测器检测系统 [P]. 
王彦龙 .
中国专利 :CN220438470U ,2024-02-02
[2]
CMOS探测器调试系统及检测方法 [P]. 
余达 ;
李国宁 ;
梅贵 ;
李强 ;
齐彪 ;
王爽 ;
安威 .
中国专利 :CN115480143B ,2025-09-09
[3]
CMOS探测器调试系统及检测方法 [P]. 
余达 ;
李国宁 ;
梅贵 ;
李强 ;
齐彪 ;
王爽 ;
安威 .
中国专利 :CN115480143A ,2022-12-16
[4]
中子探测器离线检测方法及系统 [P]. 
陈邦续 ;
李梦南 ;
陈臻 ;
王月超 ;
构文龙 ;
常宝富 .
中国专利 :CN115236723B ,2025-07-22
[5]
单光子探测器性能检测系统及单光子探测器性能检测方法 [P]. 
谭昊 ;
王岩 ;
赵卓泽 ;
张涛 ;
葛皓波 .
中国专利 :CN120760858A ,2025-10-10
[6]
X光探测器的探测器模块对齐情况检测方法及系统 [P]. 
吕文刚 ;
郭华伟 .
中国专利 :CN104207795A ,2014-12-17
[7]
探测器检测系统 [P]. 
黄英学 ;
纪人豪 ;
杨冠雄 .
中国专利 :CN206348413U ,2017-07-21
[8]
多通道探测器、探测器成像系统以及探测器成像方法 [P]. 
毕增帅 ;
孙炳辉 ;
孟庆浪 .
中国专利 :CN118501503A ,2024-08-16
[9]
CT探测器及探测器系统 [P]. 
叶廷 .
中国专利 :CN211749673U ,2020-10-27
[10]
探头、探测器及探测系统 [P]. 
李高峰 ;
王雪梅 ;
李剑波 ;
王相成 ;
张国建 ;
何玉林 ;
王城 ;
周伟娜 ;
王春梅 ;
白侠 .
中国专利 :CN211318761U ,2020-08-21