一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020673123.2

申请日：

2020-04-28

公开(公告)号：

CN212364135U

公开(公告)日：

2021-01-15

发明(设计)人：

刘丽芳郭晶赵庆杨玉玺何维民温嘉琪孟祥龙伊延龙韩兆成徐连奇田秀金

申请人：

申请人地址：

116600 辽宁省大连市经济技术开发区铁山中路61号

IPC主分类号：

G01N2300

IPC分类号：

代理机构：

大连智高专利事务所(特殊普通合伙) 21235

代理人：

李楠

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置 [P].

李伟宁 .

中国专利 :CN215812494U ,2022-02-11

[2]

一种基于X射线的目标缺陷检测装置 [P].

王慧明 ;

刘东华 ;

耿辰 ;

戴亚康 ;

郑健 .

中国专利 :CN205229072U ,2016-05-11

[3]

一种轴类零件的X射线内部缺陷检测装置 [P].

刘德新 .

中国专利 :CN207964682U ,2018-10-12

[4]

一种轴类零件的X射线内部缺陷检测装置 [P].

姚园 ;

朱克辉 ;

李德斌 .

中国专利 :CN214277959U ,2021-09-24

[5]

一种基于X射线成像分析系统的产品内部缺陷检测设备 [P].

夏玉龙 ;

夏菁 .

中国专利 :CN120253910A ,2025-07-04

[6]

一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置 [P].

刘永杰 ;

黄涛 ;

陶桔 ;

马书杰 .

中国专利 :CN216669792U ,2022-06-03

[7]

一种用于铸件缺陷的X射线检测装置 [P].

潘书顺 .

中国专利 :CN208654067U ,2019-03-26

[8]

一种基于X射线的目标缺陷检测装置 [P].

陈潜 ;

施惠 ;

俞鹏飞 ;

韦杰 .

中国专利 :CN217474178U ,2022-09-23

[9]

利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备 [P].

樊晖 .

中国专利 :CN204346952U ,2015-05-20

[10]

X射线内部缺陷准确定位标尺 [P].

张亚军 .

中国专利 :CN201508150U ,2010-06-16

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