一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202121568720.X
申请日
2021-07-12
公开(公告)号
CN215812494U
公开(公告)日
2022-02-11
发明(设计)人
李伟宁
申请人
申请人地址
山东省威海市临港经济技术开发区蔄山镇泉州路-189-4号
IPC主分类号
G01N2300
IPC分类号
代理机构
济南方宇专利代理事务所(普通合伙) 37251
代理人
俞波
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置 [P]. 
刘丽芳 ;
郭晶 ;
赵庆 ;
杨玉玺 ;
何维民 ;
温嘉琪 ;
孟祥龙 ;
伊延龙 ;
韩兆成 ;
徐连奇 ;
田秀金 .
中国专利 :CN212364135U ,2021-01-15
[2]
一种轴类零件的X射线内部缺陷检测装置 [P]. 
刘德新 .
中国专利 :CN207964682U ,2018-10-12
[3]
一种轴类零件的X射线内部缺陷检测装置 [P]. 
姚园 ;
朱克辉 ;
李德斌 .
中国专利 :CN214277959U ,2021-09-24
[4]
一种智能仓储系统X射线计数和内部缺陷检测装置 [P]. 
刘永杰 ;
黄涛 ;
陶桔 ;
马书杰 .
中国专利 :CN216669792U ,2022-06-03
[5]
一种基于X射线的目标缺陷检测装置 [P]. 
陈潜 ;
施惠 ;
俞鹏飞 ;
韦杰 .
中国专利 :CN217474178U ,2022-09-23
[6]
复杂焊件内部缺陷射线检测装置 [P]. 
石端虎 ;
杨根喜 ;
杨峰 ;
沙静 .
中国专利 :CN201885980U ,2011-06-29
[7]
一种基于X射线成像分析系统的产品内部缺陷检测设备 [P]. 
夏玉龙 ;
夏菁 .
中国专利 :CN120253910A ,2025-07-04
[8]
一种用于铸件缺陷的X射线检测装置 [P]. 
潘书顺 .
中国专利 :CN208654067U ,2019-03-26
[9]
一种基于X射线的目标缺陷检测装置 [P]. 
王慧明 ;
刘东华 ;
耿辰 ;
戴亚康 ;
郑健 .
中国专利 :CN205229072U ,2016-05-11
[10]
利用X光检测平面玻璃内部缺陷的设备 [P]. 
樊晖 .
中国专利 :CN204346952U ,2015-05-20