扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110221010.8

申请日：

2021-02-26

公开(公告)号：

CN113466494A

公开(公告)日：

2021-10-01

发明(设计)人：

山崎贤治

申请人：

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

G01Q6018

IPC分类号：

G01Q1004

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-10-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q 60/18 申请日:20210226
2021-10-01	公开	公开

共 50 条

[1]

扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P].

山崎贤治 .

日本专利 :CN113466494B ,2025-03-14

[2]

扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P].

山崎贤治 .

中国专利 :CN113311194A ,2021-08-27

[3]

扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P].

山崎贤治 .

日本专利 :CN113311194B ,2024-01-26

[4]

扫描探针显微镜和扫描探针显微镜的光轴调整方法 [P].

渡边将史 ;

上野利浩 ;

伊藤晋 ;

长谷川晶一 .

中国专利 :CN106483337A ,2017-03-08

[5]

扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的控制装置 [P].

渡边一马 ;

藤野敬太 ;

平出雅人 ;

山崎贤治 ;

中岛秀郎 ;

池田雄一郎 ;

新井浩 .

中国专利 :CN112470010A ,2021-03-09

[6]

扫描探针显微镜以及扫描探针显微镜的控制装置 [P].

渡边一马 ;

藤野敬太 ;

平出雅人 ;

山崎贤治 ;

中岛秀郎 ;

池田雄一郎 ;

新井浩 .

日本专利 :CN112470010B ,2024-06-11

[7]

扫描探针显微镜 [P].

山本浩令 .

中国专利 :CN106018882A ,2016-10-12

[8]

扫描型探针显微镜和扫描型探针显微镜的光轴调整方法 [P].

平出雅人 .

中国专利 :CN112955753A ,2021-06-11

[9]

探针显微镜以及探针显微镜的光轴调整方法 [P].

小野田有吾 ;

繁野雅次 ;

上野利浩 .

中国专利 :CN114486729A ,2022-05-13

[10]

扫描探针显微镜 [P].

武笠幸一 ;

末冈和久 ;

加茂直树 ;

细井浩贵 ;

泽村诚 .

中国专利 :CN1230669C ,2003-03-26

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