一种单粒子效应自动化测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201711115164.9
申请日
2017-11-13
公开(公告)号
CN109782102A
公开(公告)日
2019-05-21
发明(设计)人
刘金国 李振新 李正 刘晓源 张广兴
申请人
申请人地址
110016 辽宁省沈阳市东陵区南塔街114号
IPC主分类号
G01R3101
IPC分类号
G01R31265
代理机构
沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002
代理人
李巨智
法律状态
发明专利申请公布后的撤回
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
DC/DC变换器单粒子效应试验自动化测试系统 [P]. 
刘小为 ;
周大敏 ;
齐筱萍 .
中国专利 :CN202583343U ,2012-12-05
[2]
DC/DC变换器单粒子效应试验自动化测试系统及测试方法 [P]. 
刘小为 ;
周大敏 ;
齐筱萍 .
中国专利 :CN102539982B ,2012-07-04
[3]
一种基于FPGA的NAND FLASH器件单粒子效应测试系统 [P]. 
薛玉雄 ;
安恒 ;
杨生胜 ;
王德坤 ;
曹洲 ;
把得东 ;
石红 ;
汤道坦 ;
李存惠 .
中国专利 :CN102332310B ,2012-01-25
[4]
中子单粒子效应测试系统 [P]. 
杜晨 ;
陈少佳 ;
郑国恒 .
中国专利 :CN215894782U ,2022-02-22
[5]
一种单粒子效应测试方法及测试系统 [P]. 
张弛 ;
陈朝晖 ;
刘玮 ;
丁晓兵 ;
余江 ;
徐鹏 ;
田得良 ;
郑茂然 ;
陆明 ;
张静伟 ;
陈旭 ;
刘千宽 ;
李捷 ;
甘卿忠 ;
黄智华 .
中国专利 :CN117420417A ,2024-01-19
[6]
空间处理器单粒子试验自动化测试系统及方法 [P]. 
兰利东 ;
祝长民 ;
颜洁 ;
于立新 ;
范隆 ;
刘立全 .
中国专利 :CN101286126A ,2008-10-15
[7]
自动化测试系统 [P]. 
王瀚威 ;
刘容光 .
中国专利 :CN203745570U ,2014-07-30
[8]
一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法 [P]. 
薛玉雄 ;
田恺 ;
马亚莉 ;
杨生胜 ;
曹洲 .
中国专利 :CN101726702A ,2010-06-09
[9]
一种空间单粒子效应测试方法 [P]. 
安恒 ;
杨生胜 ;
薛玉雄 ;
把得东 ;
马亚莉 ;
曹洲 .
中国专利 :CN104237685A ,2014-12-24
[10]
一种自动化测试系统及自动化测试方法 [P]. 
权昊 ;
颜金姑 ;
庄接滨 .
中国专利 :CN109376088B ,2019-02-22