一种基于FPGA的NAND FLASH器件单粒子效应测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110315566.X

申请日：

2011-10-18

公开(公告)号：

CN102332310B

公开(公告)日：

2012-01-25

发明(设计)人：

薛玉雄安恒杨生胜王德坤曹洲把得东石红汤道坦李存惠

申请人：

申请人地址：

730000 甘肃省兰州市城关区渭源路97号

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

代理机构：

北京理工大学专利中心 11120

代理人：

杨志兵;付雷杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-01-25	公开	公开
2012-03-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101203921020 IPC(主分类):G11C 29/56 专利申请号:201110315566X 申请日:20111018
2013-10-02	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于FPGA的NAND FLASH器件单粒子效应测试方法 [P].

安恒 ;

薛玉雄 ;

杨生胜 ;

王德坤 ;

曹洲 ;

把得东 ;

石红 ;

汤道坦 ;

李存惠 .

中国专利 :CN102332311B ,2012-01-25

[2]

一种单粒子效应自动化测试系统 [P].

刘金国 ;

李振新 ;

李正 ;

刘晓源 ;

张广兴 .

中国专利 :CN109782102A ,2019-05-21

[3]

一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法 [P].

薛玉雄 ;

田恺 ;

马亚莉 ;

杨生胜 ;

曹洲 .

中国专利 :CN101726702A ,2010-06-09

[4]

中子单粒子效应测试系统 [P].

杜晨 ;

陈少佳 ;

郑国恒 .

中国专利 :CN215894782U ,2022-02-22

[5]

基于FPGA的SRAM存储器单粒子和充放电效应测试系统及方法 [P].

路同山 ;

苏京 ;

徐骏 ;

周博 ;

曹康丽 ;

李瑜婧 ;

潘阳阳 ;

高冬冬 ;

费涛 ;

刘刚 .

中国专利 :CN112071359B ,2020-12-11

[6]

针对FPGA辐照单粒子效应测试方法 [P].

路浩通 ;

刘恒 ;

郑学恒 ;

高祎璠 .

中国专利 :CN117665548A ,2024-03-08

[7]

一种单粒子效应测试方法及测试系统 [P].

张弛 ;

陈朝晖 ;

刘玮 ;

丁晓兵 ;

余江 ;

徐鹏 ;

田得良 ;

郑茂然 ;

陆明 ;

张静伟 ;

陈旭 ;

刘千宽 ;

李捷 ;

甘卿忠 ;

黄智华 .

中国专利 :CN117420417A ,2024-01-19

[8]

一种空间单粒子效应测试方法 [P].

安恒 ;

杨生胜 ;

薛玉雄 ;

把得东 ;

马亚莉 ;

曹洲 .

中国专利 :CN104237685A ,2014-12-24

[9]

基于FPGA的高速DDR单粒子效应评估系统及方法 [P].

蔡畅 ;

柯凌云 ;

刘郁竹 ;

孔洁 ;

陈金达 ;

叶兵 ;

贺泽 ;

刘杰 .

中国专利 :CN111444662A ,2020-07-24

[10]

一种脉宽调制器单粒子效应实验方法 [P].

薛玉雄 ;

田恺 ;

马亚莉 ;

杨生胜 ;

曹洲 .

中国专利 :CN101846725A ,2010-09-29

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