自动化测试方法、装置、系统、介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810646234.1

申请日：

2018-06-21

公开(公告)号：

CN108932194A

公开(公告)日：

2018-12-04

发明(设计)人：

赵薇

申请人：

申请人地址：

100176 北京市北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

阚梓瑄;王卫忠

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20180621
2018-12-04	公开	公开
2021-12-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:京东数字科技控股股份有限公司变更后:京东科技控股股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
2021-12-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:北京京东金融科技控股有限公司变更后:京东数字科技控股有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室
2021-12-24	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G06F 11/36 变更事项:申请人变更前:京东数字科技控股有限公司变更后:京东数字科技控股股份有限公司变更事项:地址变更前:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室变更后:100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号C座2层221室

共 50 条

[1]

电力电子设备远程自动化测试方法、系统、设备及介质 [P].

彭云 ;

周江玲 ;

蒋翌平 ;

唐涛 ;

何柳 .

中国专利 :CN118191368A ,2024-06-14

[2]

自动化测试方法、装置、电子设备及介质 [P].

杜鹏飞 ;

戴灵 ;

张宗琦 ;

常新锋 .

中国专利 :CN119166493A ,2024-12-20

[3]

自动化测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘毅 ;

谢锋 .

中国专利 :CN119847911A ,2025-04-18

[4]

自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203A ,2024-01-09

[5]

自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203B ,2024-07-02

[6]

自动化测试设备校准方法、系统、电子设备及介质 [P].

卢彬维 ;

林俊延 .

中国专利 :CN121232090A ,2025-12-30

[7]

批量自动化测试方法、装置及电子设备 [P].

陈双叶 .

中国专利 :CN108287789A ,2018-07-17

[8]

自动化测试方法、系统及电子设备 [P].

王杰 ;

张震 .

中国专利 :CN114201413A ,2022-03-18

[9]

自动化测试方法、装置、系统、介质和电子设备 [P].

张雪 ;

邓小华 .

中国专利 :CN109933519A ,2019-06-25

[10]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王成 .

中国专利 :CN107704398A ,2018-02-16

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