自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311424659.5
申请日
2023-10-27
公开(公告)号
CN117370203A
公开(公告)日
2024-01-09
发明(设计)人
王文娟 舒亮 王乐 李佳亮
申请人
华润数字科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园2栋801
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
周翀
法律状态
公开
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
王文娟 ;
舒亮 ;
王乐 ;
李佳亮 .
中国专利 :CN117370203B ,2024-07-02
[2]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王博 .
中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26
[3]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄大忠 .
中国专利 :CN114398286B ,2024-12-10
[4]
指纹解锁自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
刘晓晗 ;
赵德银 ;
李治民 ;
刘丽双 ;
李俊儒 ;
任洪赢 ;
姜卫 ;
张东波 .
中国专利 :CN119201686A ,2024-12-27
[5]
自动化测试方法、系统、电子设备及可读存储介质 [P]. 
周成 ;
林富 ;
徐舰波 ;
付成 ;
李思成 .
中国专利 :CN120234250A ,2025-07-01
[6]
一种自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
林克鹏 ;
宁明杰 ;
李家健 .
中国专利 :CN120658209A ,2025-09-16
[7]
一种自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
周润灿 ;
李响 ;
李奇威 ;
李小强 ;
李磊磊 ;
陆勇 .
中国专利 :CN120994538A ,2025-11-21
[8]
一种自动化测试系统、方法、电子设备和存储介质 [P]. 
余萝 ;
杨建旭 .
中国专利 :CN117573561B ,2024-04-26
[9]
一种自动化测试系统、方法、电子设备和存储介质 [P]. 
余萝 ;
杨建旭 .
中国专利 :CN117573561A ,2024-02-20
[10]
自动化测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
林晓升 .
中国专利 :CN120994562A ,2025-11-21