一种自动化测试系统、方法、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410052619.0

申请日：

2024-01-15

公开(公告)号：

CN117573561B

公开(公告)日：

2024-04-26

发明(设计)人：

余萝杨建旭

申请人：

成方金融科技有限公司

申请人地址：

100032 北京市西城区德胜门外大街81号11层1101

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京品源专利代理有限公司 11332

代理人：

朱彩银

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240115
2024-02-20	公开	公开
2024-04-26	授权	授权

共 50 条

[1]

一种自动化测试系统、方法、电子设备和存储介质 [P].

余萝 ;

杨建旭 .

中国专利 :CN117573561A ,2024-02-20

[2]

自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203A ,2024-01-09

[3]

自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203B ,2024-07-02

[4]

模组自动化测试系统、方法、电子设备和存储介质 [P].

戴留祥 ;

周鑫 ;

杨帮成 .

中国专利 :CN119966532A ,2025-05-09

[5]

自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

李治民 ;

赵德银 ;

张东波 ;

李俊儒 ;

刘丽双 .

中国专利 :CN114778129A ,2022-07-22

[6]

自动化测试方法、系统、存储介质与电子设备 [P].

金城 ;

刘坤鹰 .

中国专利 :CN114371995A ,2022-04-19

[7]

自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

李治民 ;

赵德银 ;

张东波 ;

李俊儒 ;

刘丽双 .

中国专利 :CN114778129B ,2025-06-27

[8]

一种自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张扬 ;

赵瑞君 .

中国专利 :CN120523714A ,2025-08-22

[9]

一种自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

王卫姣 ;

程曦 ;

刘瑞璘 ;

陈贤 .

中国专利 :CN115576817A ,2023-01-06

[10]

一种自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

林克鹏 ;

宁明杰 ;

李家健 .

中国专利 :CN120658209A ,2025-09-16

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