自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210381231.6

申请日：

2022-04-12

公开(公告)号：

CN114778129A

公开(公告)日：

2022-07-22

发明(设计)人：

李治民赵德银张东波李俊儒刘丽双

申请人：

申请人地址：

130011 吉林省长春市汽车经济技术开发区新红旗大街1号

IPC主分类号：

G01M17007

IPC分类号：

代理机构：

北京远智汇知识产权代理有限公司 11659

代理人：

刘欣

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-22	公开	公开
2022-08-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 17/007 申请日:20220412

共 50 条

[1]

自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

李治民 ;

赵德银 ;

张东波 ;

李俊儒 ;

刘丽双 .

中国专利 :CN114778129B ,2025-06-27

[2]

自动化测试方法、系统、存储介质与电子设备 [P].

金城 ;

刘坤鹰 .

中国专利 :CN114371995A ,2022-04-19

[3]

自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

蔡文静 ;

汤利顺 ;

孙克文 ;

赵泽华 ;

贾政权 ;

张天 ;

刘旸 ;

张麟 ;

刘嘉奇 .

中国专利 :CN115437351A ,2022-12-06

[4]

模组自动化测试系统、方法、电子设备和存储介质 [P].

戴留祥 ;

周鑫 ;

杨帮成 .

中国专利 :CN119966532A ,2025-05-09

[5]

硅光芯片自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

卢恺晨 .

中国专利 :CN113960441B ,2025-07-15

[6]

一种自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

王卫姣 ;

程曦 ;

刘瑞璘 ;

陈贤 .

中国专利 :CN115576817A ,2023-01-06

[7]

硅光芯片自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

卢恺晨 .

中国专利 :CN113960441A ,2022-01-21

[8]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘斌 ;

焦凤霞 ;

徐鑫 ;

魏明瑞 ;

赵国志 .

中国专利 :CN112099472A ,2020-12-18

[9]

自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203A ,2024-01-09

[10]

自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

王文娟 ;

舒亮 ;

王乐 ;

李佳亮 .

中国专利 :CN117370203B ,2024-07-02

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