自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010917229.7
申请日
2020-09-03
公开(公告)号
CN112099472A
公开(公告)日
2020-12-18
发明(设计)人
刘斌 焦凤霞 徐鑫 魏明瑞 赵国志
申请人
申请人地址
100070 北京市丰台区汽车博物馆南路1号院A座12层
IPC主分类号
G05B2302
IPC分类号
代理机构
北京路浩知识产权代理有限公司 11002
代理人
杨明月
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
赵文越 ;
阮晓玲 .
中国专利 :CN113961472A ,2022-01-21
[2]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王博 .
中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26
[3]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
马晨 .
中国专利 :CN112882939B ,2021-06-01
[4]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈岑 ;
郑志芬 ;
李长乐 .
中国专利 :CN121187949A ,2025-12-23
[5]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄大忠 .
中国专利 :CN114398286B ,2024-12-10
[6]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李颖 ;
熊施 ;
陶敏 ;
杨启超 .
中国专利 :CN119513889A ,2025-02-25
[7]
自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
李翔 ;
王建军 ;
刘欣 .
中国专利 :CN108170611A ,2018-06-15
[8]
自动化测试方法、自动化测试装置、电子设备、存储介质 [P]. 
孙明星 ;
吴丹 ;
黎树敏 ;
黄钦 .
中国专利 :CN115562991A ,2023-01-03
[9]
自动化测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P]. 
李治民 ;
赵德银 ;
张东波 ;
李俊儒 ;
刘丽双 .
中国专利 :CN114778129A ,2022-07-22
[10]
自动化测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
王文娟 ;
舒亮 ;
王乐 ;
李佳亮 .
中国专利 :CN117370203A ,2024-01-09