自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810062116.6
申请日
2018-01-23
公开(公告)号
CN108170611A
公开(公告)日
2018-06-15
发明(设计)人
李翔 王建军 刘欣
申请人
申请人地址
310052 浙江省杭州市滨江区长河街道网商路599号4幢7层
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
王辉;阚梓瑄
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李颖 ;
熊施 ;
陶敏 ;
杨启超 .
中国专利 :CN119513889A ,2025-02-25
[2]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王博 .
中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26
[3]
自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
赵文越 ;
阮晓玲 .
中国专利 :CN113961472A ,2022-01-21
[4]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
马晨 .
中国专利 :CN112882939B ,2021-06-01
[5]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈岑 ;
郑志芬 ;
李长乐 .
中国专利 :CN121187949A ,2025-12-23
[6]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘斌 ;
焦凤霞 ;
徐鑫 ;
魏明瑞 ;
赵国志 .
中国专利 :CN112099472A ,2020-12-18
[7]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄大忠 .
中国专利 :CN114398286B ,2024-12-10
[8]
用户界面自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
莫延伟 ;
范渊 ;
刘博 .
中国专利 :CN113778898A ,2021-12-10
[9]
用户界面自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
莫延伟 ;
范渊 ;
刘博 .
中国专利 :CN113778898B ,2024-02-20
[10]
自动化测试方法、自动化测试装置、电子设备、存储介质 [P]. 
孙明星 ;
吴丹 ;
黎树敏 ;
黄钦 .
中国专利 :CN115562991A ,2023-01-03