自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111331960.2
申请日
2021-11-11
公开(公告)号
CN113961472A
公开(公告)日
2022-01-21
发明(设计)人
赵文越 阮晓玲
申请人
申请人地址
100140 北京市西城区复兴门内大街55号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F948
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
刘熔;赵平
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘斌 ;
焦凤霞 ;
徐鑫 ;
魏明瑞 ;
赵国志 .
中国专利 :CN112099472A ,2020-12-18
[2]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王博 .
中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26
[3]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
马晨 .
中国专利 :CN112882939B ,2021-06-01
[4]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈岑 ;
郑志芬 ;
李长乐 .
中国专利 :CN121187949A ,2025-12-23
[5]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
许明天 .
中国专利 :CN118820058A ,2024-10-22
[6]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李林真 .
中国专利 :CN114153668B ,2025-05-23
[7]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
黄大忠 .
中国专利 :CN114398286B ,2024-12-10
[8]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李林真 .
中国专利 :CN114153668A ,2022-03-08
[9]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李颖 ;
熊施 ;
陶敏 ;
杨启超 .
中国专利 :CN119513889A ,2025-02-25
[10]
自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
李翔 ;
王建军 ;
刘欣 .
中国专利 :CN108170611A ,2018-06-15