划片机及划片机接触测高装置、划片机测高方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910750183.1

申请日：

2019-08-14

公开(公告)号：

CN110487151A

公开(公告)日：

2019-11-22

发明(设计)人：

赵彤宇石云鹏司亚辉孙亚辉郑海全

申请人：

申请人地址：

450000 河南省郑州市航空港区郑港六路与郑港二街交叉口东100米豫发蓝山公馆二楼229号

IPC主分类号：

G01B506

IPC分类号：

代理机构：

郑州睿信知识产权代理有限公司 41119

代理人：

李天龙

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-22	公开	公开
2019-12-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 5/06 申请日:20190814
2020-12-29	授权	授权

共 50 条

[1]

划片机测高方法、测高装置及划片机 [P].

赵彤宇 ;

司亚辉 ;

郑海全 ;

李港生 ;

王亚明 .

中国专利 :CN110549507B ,2019-12-10

[2]

非接触测高划片机 [P].

袁慧珠 ;

张明明 .

中国专利 :CN114851412A ,2022-08-05

[3]

接触式测高装置及划片机 [P].

王超 ;

石云鹏 ;

司亚辉 ;

张明洋 ;

李港生 .

中国专利 :CN217344961U ,2022-09-02

[4]

外部接触式测高装置及划片机 [P].

王超 ;

石云鹏 ;

司亚辉 ;

李伟超 ;

孙亚辉 .

中国专利 :CN218285013U ,2023-01-13

[5]

非接触式测高装置及划片机 [P].

刘炳先 ;

于光明 ;

孙志超 ;

金道成 .

中国专利 :CN218160299U ,2022-12-27

[6]

划片机、划片机主轴碳刷防磨损系统、划片机测高方法 [P].

赵彤宇 ;

王超 ;

李伟超 ;

张健欣 ;

王建伟 .

中国专利 :CN117532476A ,2024-02-09

[7]

一种划片机测高装置及测高方法 [P].

王俊杰 ;

刘婷婷 ;

孟庆嵩 .

中国专利 :CN119915171A ,2025-05-02

[8]

一种划片机非接触测高装置 [P].

张光明 .

中国专利 :CN207303045U ,2018-05-01

[9]

划片方法、系统及划片机 [P].

周井鑫 ;

林璇 ;

孙志超 ;

吕孝袁 ;

高阳 .

中国专利 :CN118181555B ,2024-10-01

[10]

用于晶圆划片机的测高电路及晶圆划片机 [P].

赵德文 ;

冯巨震 ;

万明军 ;

陈桢 .

中国专利 :CN119141697A ,2024-12-17

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