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非接触式测高装置及划片机
被引:0
申请号
:
CN202222298213.X
申请日
:
2022-08-31
公开(公告)号
:
CN218160299U
公开(公告)日
:
2022-12-27
发明(设计)人
:
刘炳先
于光明
孙志超
金道成
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市常熟市经济技术开发区海城路2号9幢
IPC主分类号
:
H01L2167
IPC分类号
:
H01L2166
H01L21304
B28D500
代理机构
:
南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297
代理人
:
顾祥安
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-27
授权
授权
共 50 条
[1]
接触式测高装置及划片机
[P].
王超
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王超
;
石云鹏
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石云鹏
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司亚辉
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司亚辉
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张明洋
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张明洋
;
李港生
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李港生
.
中国专利
:CN217344961U
,2022-09-02
[2]
外部接触式测高装置及划片机
[P].
王超
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王超
;
石云鹏
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石云鹏
;
司亚辉
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司亚辉
;
李伟超
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李伟超
;
孙亚辉
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孙亚辉
.
中国专利
:CN218285013U
,2023-01-13
[3]
划片机及划片机接触测高装置、划片机测高方法
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
;
石云鹏
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石云鹏
;
司亚辉
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司亚辉
;
孙亚辉
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孙亚辉
;
郑海全
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郑海全
.
中国专利
:CN110487151A
,2019-11-22
[4]
非接触测高划片机
[P].
袁慧珠
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袁慧珠
;
张明明
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张明明
.
中国专利
:CN114851412A
,2022-08-05
[5]
一种划片机非接触测高装置
[P].
张光明
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张光明
.
中国专利
:CN207303045U
,2018-05-01
[6]
一种非接触测高装置及划片机
[P].
刘荒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘荒
;
陈扬
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
陈扬
;
唐贵富
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
唐贵富
;
吕艳
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
吕艳
;
刘光恒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘光恒
;
张春光
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
张春光
;
韩华超
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
韩华超
;
赵博仲
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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赵博仲
;
张志勇
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
张志勇
;
冯银凤
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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冯银凤
;
尹宁
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
尹宁
;
李东旭
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
李东旭
.
中国专利
:CN120063139A
,2025-05-30
[7]
一种非接触测高装置及划片机
[P].
刘荒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘荒
;
陈扬
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
陈扬
;
唐贵富
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
唐贵富
;
吕艳
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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吕艳
;
刘光恒
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘光恒
;
张春光
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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张春光
;
韩华超
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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韩华超
;
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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张志勇
;
冯银凤
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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冯银凤
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尹宁
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沈阳仪表科学研究院有限公司
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尹宁
;
李东旭
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
李东旭
.
中国专利
:CN120063139B
,2025-08-08
[8]
划片机测高方法、测高装置及划片机
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
;
司亚辉
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司亚辉
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郑海全
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郑海全
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李港生
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李港生
;
王亚明
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王亚明
.
中国专利
:CN110549507B
,2019-12-10
[9]
一种划片机用非接触测高装置
[P].
杨云龙
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杨云龙
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于光明
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于光明
;
胡章坤
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胡章坤
.
中国专利
:CN111618724A
,2020-09-04
[10]
划片机刀片非接触式测高调整方法及装置
[P].
叶十逢
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机构:
东屹半导体科技(江苏)有限公司
东屹半导体科技(江苏)有限公司
叶十逢
;
俞子强
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机构:
东屹半导体科技(江苏)有限公司
东屹半导体科技(江苏)有限公司
俞子强
.
中国专利
:CN118927021B
,2025-04-22
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