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一种非接触测高装置及划片机
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510525443.0
申请日
:
2025-04-25
公开(公告)号
:
CN120063139A
公开(公告)日
:
2025-05-30
发明(设计)人
:
刘荒
陈扬
唐贵富
吕艳
刘光恒
张春光
韩华超
赵博仲
张志勇
冯银凤
尹宁
李东旭
申请人
:
沈阳仪表科学研究院有限公司
申请人地址
:
110043 辽宁省沈阳市浑南区浑南中路41乙号
IPC主分类号
:
G01B11/06
IPC分类号
:
代理机构
:
北京高沃律师事务所 11569
代理人
:
李胜强
法律状态
:
授权
国省代码
:
辽宁省 沈阳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-08-08
授权
授权
2025-06-17
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20250425
2025-05-30
公开
公开
共 50 条
[1]
一种非接触测高装置及划片机
[P].
刘荒
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘荒
;
陈扬
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
陈扬
;
唐贵富
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
唐贵富
;
吕艳
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
吕艳
;
刘光恒
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘光恒
;
张春光
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
张春光
;
韩华超
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
韩华超
;
赵博仲
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
赵博仲
;
张志勇
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
张志勇
;
冯银凤
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
冯银凤
;
尹宁
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
尹宁
;
李东旭
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
李东旭
.
中国专利
:CN120063139B
,2025-08-08
[2]
非接触测高划片机
[P].
袁慧珠
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袁慧珠
;
张明明
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张明明
.
中国专利
:CN114851412A
,2022-08-05
[3]
非接触式测高装置及划片机
[P].
刘炳先
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刘炳先
;
于光明
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于光明
;
孙志超
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孙志超
;
金道成
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金道成
.
中国专利
:CN218160299U
,2022-12-27
[4]
一种划片机非接触测高装置
[P].
张光明
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张光明
.
中国专利
:CN207303045U
,2018-05-01
[5]
划片机及划片机接触测高装置、划片机测高方法
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
;
石云鹏
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石云鹏
;
司亚辉
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司亚辉
;
孙亚辉
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孙亚辉
;
郑海全
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郑海全
.
中国专利
:CN110487151A
,2019-11-22
[6]
一种划片机用非接触测高装置
[P].
杨云龙
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杨云龙
;
于光明
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于光明
;
胡章坤
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胡章坤
.
中国专利
:CN111618724A
,2020-09-04
[7]
外部接触式测高装置及划片机
[P].
王超
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王超
;
石云鹏
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石云鹏
;
司亚辉
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司亚辉
;
李伟超
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李伟超
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孙亚辉
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孙亚辉
.
中国专利
:CN218285013U
,2023-01-13
[8]
接触式测高装置及划片机
[P].
王超
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王超
;
石云鹏
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石云鹏
;
司亚辉
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司亚辉
;
张明洋
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张明洋
;
李港生
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李港生
.
中国专利
:CN217344961U
,2022-09-02
[9]
划片机测高方法、测高装置及划片机
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
;
司亚辉
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司亚辉
;
郑海全
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郑海全
;
李港生
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李港生
;
王亚明
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王亚明
.
中国专利
:CN110549507B
,2019-12-10
[10]
一种划片机测高装置及测高方法
[P].
王俊杰
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机构:
北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
王俊杰
;
刘婷婷
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机构:
北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
刘婷婷
;
孟庆嵩
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机构:
北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
孟庆嵩
.
中国专利
:CN119915171A
,2025-05-02
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