静电测试管理系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201320136708.0
申请日
2013-03-22
公开(公告)号
CN203165021U
公开(公告)日
2013-08-28
发明(设计)人
严令
申请人
申请人地址
214000 江苏省无锡市惠山区惠山经济开发区堰新路318号628室、630室
IPC主分类号
G06Q5000
IPC分类号
代理机构
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411
代理人
曾少丽
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
产品测试管理系统 [P]. 
肖孝余 ;
黄兴艺 ;
高洪军 .
中国专利 :CN206696880U ,2017-12-01
[2]
UI的测试管理系统以及测试管理方法 [P]. 
曾芳 .
中国专利 :CN118409959A ,2024-07-30
[3]
测试管理系统 [P]. 
杨京翰 ;
肖启川 ;
蔡欣 ;
任还 ;
张峻铭 ;
蒋德富 .
中国专利 :CN107423223A ,2017-12-01
[4]
测试管理方法、测试管理系统总控制中心及测试管理系统 [P]. 
高喜春 ;
王友楠 ;
韩俊波 .
中国专利 :CN102420714A ,2012-04-18
[5]
产品测试管理系统及测试管理方法 [P]. 
王翔 ;
方雄伟 ;
刘金刚 ;
罗四维 .
中国专利 :CN102024198A ,2011-04-20
[6]
产品测试管理系统及测试管理方法 [P]. 
蓝元志 ;
陈昕辉 ;
丘德盛 ;
廖文颢 ;
王翔 ;
周武京 .
中国专利 :CN101847227A ,2010-09-29
[7]
一种批量快速陀螺测试管理系统 [P]. 
万新欣 ;
李凯宏 ;
韩金龙 ;
陈君雯 .
中国专利 :CN208704764U ,2019-04-05
[8]
半导体测试管理系统 [P]. 
吕秋玲 ;
许俊 ;
庄祈龙 ;
王明珠 .
中国专利 :CN101349723A ,2009-01-21
[9]
半导体测试管理系统 [P]. 
许海渐 ;
王海荣 ;
申凡平 ;
孙军伟 .
中国专利 :CN118011188B ,2024-07-05
[10]
半导体测试管理系统 [P]. 
许海渐 ;
王海荣 ;
申凡平 ;
孙军伟 .
中国专利 :CN118011188A ,2024-05-10