半导体测试管理系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410412461.3

申请日：

2024-04-08

公开(公告)号：

CN118011188A

公开(公告)日：

2024-05-10

发明(设计)人：

许海渐王海荣申凡平孙军伟

申请人：

南通优睿半导体有限公司

申请人地址：

226000 江苏省南通市启东市南苑西路1188号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/26 H01L21/66

代理机构：

江苏南通启海专利商标代理事务所(普通合伙) 32812

代理人：

张广宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省南通市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240408
2024-05-10	公开	公开
2024-07-05	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体测试管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118011188B ,2024-07-05

[2]

半导体测试管理系统 [P].

吕秋玲 ;

许俊 ;

庄祈龙 ;

王明珠 .

中国专利 :CN101349723A ,2009-01-21

[3]

半导体测试管理系统及方法 [P].

黄舜熙 .

中国专利 :CN1825130A ,2006-08-30

[4]

一种半导体测试管理系统 [P].

宋奇 ;

孔令均 .

中国专利 :CN119581353A ,2025-03-07

[5]

半导体设备报警管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118016572B ,2024-07-05

[6]

半导体设备报警管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118016572A ,2024-05-10

[7]

半导体电性针测测试管理系统及方法 [P].

张志坚 ;

杨耿嘉 ;

黄义盛 ;

辛焕斌 .

中国专利 :CN101303382A ,2008-11-12

[8]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[9]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN210442470U ,2020-05-01

[10]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN110333431A ,2019-10-15

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