半导体测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910550077.9

申请日：

2019-06-24

公开(公告)号：

CN110333431A

公开(公告)日：

2019-10-15

发明(设计)人：

刘浩

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区娄葑镇星湖街999号99幢405室

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411

代理人：

刘自丽

法律状态：

发明专利申请公布后的撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-25	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 31/26 申请公布日:20191015
2019-11-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20190624
2019-10-15	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN210442470U ,2020-05-01

[2]

半导体测试系统 [P].

矢野智巳 ;

冈本幸造 ;

森本琢巳 .

中国专利 :CN100350587C ,2006-04-19

[3]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[4]

半导体测试系统 [P].

梁聪 ;

嵇康 ;

朱军 ;

郭瑞亮 .

中国专利 :CN220650818U ,2024-03-22

[5]

半导体测试系统 [P].

伊东良真 ;

并木克彦 .

中国专利 :CN100476446C ,2006-09-20

[6]

半导体测试系统 [P].

丹尼尔C·普罗斯考尔 .

中国专利 :CN1192243C ,2000-10-18

[7]

半导体测试系统 [P].

罗伯特·F·索尔 ;

福岛清 ;

矢元裕明 .

中国专利 :CN1195776A ,1998-10-14

[8]

半导体测试系统 [P].

陈文祺 .

中国专利 :CN101750577A ,2010-06-23

[9]

半导体测试系统 [P].

汪秉龙 ;

刘春生 ;

詹淳帆 ;

李世强 .

中国专利 :CN215575492U ,2022-01-18

[10]

故障检测半导体测试系统 [P].

安东尼·勒 ;

罗基特·拉尤斯曼 ;

詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 ;

菅森茂 .

中国专利 :CN1321891A ,2001-11-14

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