半导体测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510064511.0

申请日：

2005-04-11

公开(公告)号：

CN100350587C

公开(公告)日：

2006-04-19

发明(设计)人：

矢野智巳冈本幸造森本琢巳

申请人：

申请人地址：

日本神奈川县

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：

赵淑萍

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-11-21	授权	授权
2006-06-07	实质审查的生效	实质审查的生效
2018-04-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20050411 授权公告日:20071121 终止日期:20170411
2015-05-27	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101715744028 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL2005100645110 变更事项:专利权人变更前权利人:富士通半导体股份有限公司变更后权利人:株式会社索思未来变更事项:地址变更前权利人:日本神奈川县变更后权利人:日本神奈川县登记生效日:20150511
2008-12-10	专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)	专利申请权、专利权的转移(专利权的转移) 变更事项:专利权人变更前权利人:富士通株式会社变更后权利人:富士通微电子株式会社变更事项:地址变更前:日本神奈川县变更后:日本东京都登记生效日:20081031
2010-09-01	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101007180629 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL2005100645110 变更事项:专利权人变更前:富士通微电子株式会社变更后:富士通半导体股份有限公司变更事项:地址变更前:日本东京都变更后:日本神奈川县
2006-04-19	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P].

张健 .

中国专利 :CN118655433A ,2024-09-17

[2]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN210442470U ,2020-05-01

[3]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN110333431A ,2019-10-15

[4]

半导体测试系统 [P].

罗伯特·F·索尔 ;

福岛清 ;

矢元裕明 .

中国专利 :CN1195776A ,1998-10-14

[5]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[6]

半导体测试系统 [P].

梁聪 ;

嵇康 ;

朱军 ;

郭瑞亮 .

中国专利 :CN220650818U ,2024-03-22

[7]

半导体测试系统 [P].

伊东良真 ;

并木克彦 .

中国专利 :CN100476446C ,2006-09-20

[8]

半导体测试系统 [P].

丹尼尔C·普罗斯考尔 .

中国专利 :CN1192243C ,2000-10-18

[9]

半导体测试系统 [P].

陈文祺 .

中国专利 :CN101750577A ,2010-06-23

[10]

半导体测试系统 [P].

汪秉龙 ;

刘春生 ;

詹淳帆 ;

李世强 .

中国专利 :CN215575492U ,2022-01-18

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