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半导体测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121819513.7
申请日：
2021-08-05
公开(公告)号：
CN215575492U
公开(公告)日：
2022-01-18
发明(设计)人：
汪秉龙
刘春生
詹淳帆
李世强
申请人：
申请人地址：
中国台湾新竹市
IPC主分类号：
G01R3126
IPC分类号：
代理机构：
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人：
许静;曹娜
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-18 | 授权 | 授权 |