故障检测半导体测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN01109570.9

申请日：

2001-04-13

公开(公告)号：

CN1321891A

公开(公告)日：

2001-11-14

发明(设计)人：

安东尼·勒罗基特·拉尤斯曼詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特菅森茂

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

永新专利商标代理有限公司

代理人：

蹇炜

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2003-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效
2001-11-14	公开	公开
2007-07-25	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回

共 50 条

[1]

基于事件的半导体测试系统 [P].

詹姆斯·艾伦·特恩奎斯特 ;

菅森茂 ;

罗基特·赖什曼 ;

矢元裕明 .

中国专利 :CN1244820C ,2002-10-30

[2]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN210442470U ,2020-05-01

[3]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN110333431A ,2019-10-15

[4]

半导体测试系统 [P].

矢野智巳 ;

冈本幸造 ;

森本琢巳 .

中国专利 :CN100350587C ,2006-04-19

[5]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[6]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[7]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[8]

半导体测试系统 [P].

梁聪 ;

嵇康 ;

朱军 ;

郭瑞亮 .

中国专利 :CN220650818U ,2024-03-22

[9]

半导体测试系统 [P].

伊东良真 ;

并木克彦 .

中国专利 :CN100476446C ,2006-09-20

[10]

半导体测试系统 [P].

丹尼尔C·普罗斯考尔 .

中国专利 :CN1192243C ,2000-10-18

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