半导体测试管理系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610007821.3

申请日：

2006-02-17

公开(公告)号：

CN1825130A

公开(公告)日：

2006-08-30

发明(设计)人：

黄舜熙

申请人：

申请人地址：

台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

H01L2166

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所

代理人：

刘新宇

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-10-22	授权	授权
2006-10-25	实质审查的生效	实质审查的生效
2006-08-30	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测试管理系统 [P].

吕秋玲 ;

许俊 ;

庄祈龙 ;

王明珠 .

中国专利 :CN101349723A ,2009-01-21

[2]

半导体测试管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118011188B ,2024-07-05

[3]

半导体测试管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118011188A ,2024-05-10

[4]

一种半导体测试管理系统 [P].

宋奇 ;

孔令均 .

中国专利 :CN119581353A ,2025-03-07

[5]

半导体电性针测测试管理系统及方法 [P].

张志坚 ;

杨耿嘉 ;

黄义盛 ;

辛焕斌 .

中国专利 :CN101303382A ,2008-11-12

[6]

半导体测试系统及方法 [P].

卢膺伦 ;

黄舜熙 .

中国专利 :CN100495678C ,2006-04-19

[7]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[8]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[9]

半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P].

张健 .

中国专利 :CN118655433A ,2024-09-17

[10]

半导体组件测试方法及半导体组件测试系统 [P].

M·困德 ;

G·米勒 .

中国专利 :CN1607396A ,2005-04-20

← 1 2 3 4 5 →