半导体电性针测测试管理系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710136966.8

申请日：

2007-07-26

公开(公告)号：

CN101303382A

公开(公告)日：

2008-11-12

发明(设计)人：

张志坚杨耿嘉黄义盛辛焕斌

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R3126 G01R3128 G05B1904 H01L2166

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司

代理人：

陈晨

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-01-07	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-11-12	公开	公开
2011-08-31	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101181289916 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2007101369668 公开日:20081112

共 50 条

[1]

半导体测试管理系统及方法 [P].

黄舜熙 .

中国专利 :CN1825130A ,2006-08-30

[2]

半导体测试管理系统 [P].

吕秋玲 ;

许俊 ;

庄祈龙 ;

王明珠 .

中国专利 :CN101349723A ,2009-01-21

[3]

半导体测试管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118011188B ,2024-07-05

[4]

半导体测试管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118011188A ,2024-05-10

[5]

一种半导体测试管理系统 [P].

宋奇 ;

孔令均 .

中国专利 :CN119581353A ,2025-03-07

[6]

产品测试管理系统及测试管理方法 [P].

王翔 ;

方雄伟 ;

刘金刚 ;

罗四维 .

中国专利 :CN102024198A ,2011-04-20

[7]

产品测试管理系统及测试管理方法 [P].

蓝元志 ;

陈昕辉 ;

丘德盛 ;

廖文颢 ;

王翔 ;

周武京 .

中国专利 :CN101847227A ,2010-09-29

[8]

测试管理方法、测试管理系统总控制中心及测试管理系统 [P].

高喜春 ;

王友楠 ;

韩俊波 .

中国专利 :CN102420714A ,2012-04-18

[9]

半导体电性测试机 [P].

成家柏 ;

郭丹 .

中国专利 :CN305503315S ,2019-12-20

[10]

半导体器件的电性测试方法及测试结构 [P].

白新 .

中国专利 :CN114783500A ,2022-07-22

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