一种半导体测试管理系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411599475.7

申请日：

2024-11-11

公开(公告)号：

CN119581353A

公开(公告)日：

2025-03-07

发明(设计)人：

宋奇孔令均

申请人：

山东博通微电子有限公司

申请人地址：

273100 山东省济宁市曲阜市信息路6号

IPC主分类号：

H01L21/66

IPC分类号：

G08B21/18 G08B25/00 G01D21/02 G06Q10/0631 G06Q10/0639 G06Q50/04 G06T7/00 G06F18/213 G06F18/241 G06F18/243 G06N3/08

代理机构：

济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙) 37254

代理人：

张亮亮

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

山东省济宁市

引用

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共 50 条

[1]

半导体测试管理系统 [P].

吕秋玲 ;

许俊 ;

庄祈龙 ;

王明珠 .

中国专利 :CN101349723A ,2009-01-21

[2]

半导体测试管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118011188B ,2024-07-05

[3]

半导体测试管理系统 [P].

许海渐 ;

王海荣 ;

申凡平 ;

孙军伟 .

中国专利 :CN118011188A ,2024-05-10

[4]

半导体测试管理系统及方法 [P].

黄舜熙 .

中国专利 :CN1825130A ,2006-08-30

[5]

一种半导体测试系统 [P].

王奇琦 ;

袁齐 .

中国专利 :CN222354009U ,2025-01-14

[6]

半导体电性针测测试管理系统及方法 [P].

张志坚 ;

杨耿嘉 ;

黄义盛 ;

辛焕斌 .

中国专利 :CN101303382A ,2008-11-12

[7]

测试管理系统 [P].

杨京翰 ;

肖启川 ;

蔡欣 ;

任还 ;

张峻铭 ;

蒋德富 .

中国专利 :CN107423223A ,2017-12-01

[8]

一种半导体晶圆测试系统 [P].

朱耿森 ;

蔡丽虹 ;

朱和亮 .

中国专利 :CN118275444A ,2024-07-02

[9]

一种半导体测试系统及方法 [P].

冉晗冰 .

中国专利 :CN118914810A ,2024-11-08

[10]

一种半导体晶圆测试系统 [P].

朱耿森 ;

蔡丽虹 ;

朱和亮 .

中国专利 :CN118275444B ,2024-11-19

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H01L 21/66申请日:20241111
2025-03-07	公开	公开