一种半导体测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410965130.2

申请日：

2024-07-18

公开(公告)号：

CN118914810A

公开(公告)日：

2024-11-08

发明(设计)人：

冉晗冰

申请人：

重庆市计量质量检测研究院

申请人地址：

401120 重庆市渝北区杨柳北路1号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G06F18/21 G06F18/214

代理机构：

青岛博展利华知识产权代理事务所(普通合伙) 37287

代理人：

刘玉静

法律状态：

公开

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	公开	公开
2025-04-15	发明专利申请公布后的撤回	发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01R 31/28申请公布日:20241108

共 50 条

[1]

半导体测试系统及方法 [P].

卢膺伦 ;

黄舜熙 .

中国专利 :CN100495678C ,2006-04-19

[2]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[3]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[4]

一种半导体测试系统 [P].

王奇琦 ;

袁齐 .

中国专利 :CN222354009U ,2025-01-14

[5]

半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P].

张健 .

中国专利 :CN118655433A ,2024-09-17

[6]

提高半导体测试系统产能的方法及半导体测试系统 [P].

李全任 ;

毛国梁 .

中国专利 :CN111564383B ,2020-08-21

[7]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[8]

一种测试系统及半导体测试方法 [P].

肖世玉 ;

曹凯 .

中国专利 :CN115372782A ,2022-11-22

[9]

一种半导体测试系统及其工作方法 [P].

王奇琦 ;

袁齐 .

中国专利 :CN118091358A ,2024-05-28

[10]

半导体组件测试方法及半导体组件测试系统 [P].

M·困德 ;

G·米勒 .

中国专利 :CN1607396A ,2005-04-20

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