半导体测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200510064278.6

申请日：

2005-04-14

公开(公告)号：

CN100495678C

公开(公告)日：

2006-04-19

发明(设计)人：

卢膺伦黄舜熙

申请人：

申请人地址：

台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

H01L2100 G06Q1000

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所

代理人：

刘新宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-06-03	授权	授权
2006-06-07	实质审查的生效	实质审查的生效
2006-04-19	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[2]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[3]

半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P].

张健 .

中国专利 :CN118655433A ,2024-09-17

[4]

提高半导体测试系统产能的方法及半导体测试系统 [P].

李全任 ;

毛国梁 .

中国专利 :CN111564383B ,2020-08-21

[5]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[6]

一种半导体测试系统及方法 [P].

冉晗冰 .

中国专利 :CN118914810A ,2024-11-08

[7]

半导体组件测试方法及半导体组件测试系统 [P].

M·困德 ;

G·米勒 .

中国专利 :CN1607396A ,2005-04-20

[8]

半导体测试系统及其测试方法 [P].

魏磊 .

中国专利 :CN109870336A ,2019-06-11

[9]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN210442470U ,2020-05-01

[10]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN110333431A ,2019-10-15

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