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电容式隔膜真空计和真空装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN200910266354.X
申请日
:
2009-12-24
公开(公告)号
:
CN101776502B
公开(公告)日
:
2010-07-14
发明(设计)人
:
宫下治三
申请人
:
申请人地址
:
日本神奈川
IPC主分类号
:
G01L912
IPC分类号
:
代理机构
:
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人
:
刘志强
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-01-04
授权
授权
2010-09-15
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101005741949 IPC(主分类):G01L 9/12 专利申请号:200910266354X 申请日:20091224
2010-07-14
公开
公开
共 50 条
[1]
电容式薄膜真空计
[P].
胡显浪
论文数:
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机构:
拉普拉斯新能源科技股份有限公司
拉普拉斯新能源科技股份有限公司
胡显浪
;
肖四哲
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拉普拉斯新能源科技股份有限公司
拉普拉斯新能源科技股份有限公司
肖四哲
;
庞爱锁
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机构:
拉普拉斯新能源科技股份有限公司
拉普拉斯新能源科技股份有限公司
庞爱锁
;
张武
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机构:
拉普拉斯新能源科技股份有限公司
拉普拉斯新能源科技股份有限公司
张武
.
中国专利
:CN222087203U
,2024-11-29
[2]
隔膜真空计
[P].
吉川康秀
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阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
吉川康秀
;
小原圭辅
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阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
小原圭辅
;
市原纯
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阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
市原纯
;
佐藤公洋
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机构:
阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
佐藤公洋
.
日本专利
:CN117949136A
,2024-04-30
[3]
隔膜真空计
[P].
吉川康秀
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阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
吉川康秀
;
小原圭辅
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阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
小原圭辅
;
市原純
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阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
市原純
;
佐藤公洋
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机构:
阿自倍尔株式会社
阿自倍尔株式会社
佐藤公洋
.
日本专利
:CN115356037B
,2025-09-26
[4]
隔膜真空计
[P].
吉川康秀
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吉川康秀
;
小原圭辅
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小原圭辅
;
市原純
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市原純
;
佐藤公洋
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佐藤公洋
.
中国专利
:CN115356037A
,2022-11-18
[5]
电容式薄膜真空计检测装置、真空计及检测方法
[P].
王松杰
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
王松杰
;
廖兴才
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
廖兴才
;
林立男
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
林立男
;
汤一
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
汤一
;
闫冉
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
闫冉
;
王杰
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
王杰
;
宋冬谊
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
宋冬谊
;
唐嫒尧
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
唐嫒尧
;
高乐
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北京晨晶电子有限公司
北京晨晶电子有限公司
高乐
.
中国专利
:CN115031896B
,2024-06-07
[6]
电容式薄膜真空计检测装置、真空计及检测方法
[P].
王松杰
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王松杰
;
廖兴才
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廖兴才
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林立男
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林立男
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汤一
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汤一
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闫冉
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王杰
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王杰
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宋冬谊
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宋冬谊
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唐嫒尧
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唐嫒尧
;
高乐
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高乐
.
中国专利
:CN115031896A
,2022-09-09
[7]
隔膜真空计
[P].
吉川康秀
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吉川康秀
;
小原圭辅
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小原圭辅
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市原纯
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市原纯
;
佐藤公洋
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佐藤公洋
.
中国专利
:CN115326272A
,2022-11-11
[8]
电容式薄膜真空计检测电路、真空计及真空度检测方法
[P].
王松杰
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王松杰
;
汤一
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汤一
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王杰
;
宋冬谊
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宋冬谊
;
高乐
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高乐
;
韩雪飞
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韩雪飞
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廖兴才
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廖兴才
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林立男
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林立男
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张永斌
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张永斌
.
中国专利
:CN113899494A
,2022-01-07
[9]
一种电容式薄膜真空计
[P].
郜晨希
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
郜晨希
;
张心强
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中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
张心强
;
徐亚辉
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中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
徐亚辉
;
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林琳
;
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机构:
孙小孟
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闫明
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
闫明
;
张沙
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机构:
中国科学院微电子研究所
中国科学院微电子研究所
张沙
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机构:
刘瑞琪
;
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机构:
苏涛
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机构:
李超波
.
中国专利
:CN119104218A
,2024-12-10
[10]
一种电容式薄膜真空计
[P].
朱泓
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朱泓
;
唐云剑
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唐云剑
.
中国专利
:CN209470807U
,2019-10-08
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