基于表面等离子体波的半导体缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210111269.8
申请日
2012-04-17
公开(公告)号
CN102636491B
公开(公告)日
2012-08-15
发明(设计)人
杨涛 何浩培 李兴鳌 周馨慧 黄维
申请人
申请人地址
210003 江苏省南京市新模范马路66号
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01B1130
代理机构
南京经纬专利商标代理有限公司 32200
代理人
许方
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
基于表面等离子体波传输距离的电磁波调制方法 [P]. 
杨涛 ;
黄维 ;
李兴鳌 ;
凌安平 ;
何浩培 ;
周馨慧 .
中国专利 :CN102739165A ,2012-10-17
[2]
基于表面等离子体波传输距离的电磁波温度调制方法 [P]. 
黄维 ;
杨涛 ;
李兴鳌 ;
凌安平 ;
何浩培 ;
蔡祥宝 ;
周馨慧 .
中国专利 :CN102736273A ,2012-10-17
[3]
一种半导体等离子体频率测量方法 [P]. 
杨涛 ;
黄维 ;
蔡祥宝 ;
李兴鳌 ;
刘辉 ;
何浩培 ;
周馨慧 ;
王建云 .
中国专利 :CN102721670B ,2012-10-10
[4]
半导体薄膜等离子体滤波器的检测方法 [P]. 
沈文忠 ;
钱志刚 .
中国专利 :CN100347536C ,2003-03-26
[5]
太赫兹表面等离子体波温度控制开关及其控制方法 [P]. 
杨涛 ;
何浩培 ;
仪明东 ;
黄维 ;
李兴鳌 .
中国专利 :CN102176521B ,2011-09-07
[6]
远程等离子体辅助的半导体刻蚀表面清洁方法 [P]. 
潘小刚 ;
朱国俊 .
中国专利 :CN121096926A ,2025-12-09
[7]
表面波等离子体装置和半导体处理设备 [P]. 
赵晓丽 .
中国专利 :CN110797248A ,2020-02-14
[8]
用于半导体功能材料表面缺陷调控的等离子体反应装置 [P]. 
马相聪 ;
桑春晖 ;
伊创 ;
钱汉 .
中国专利 :CN217484249U ,2022-09-23
[9]
相移干涉表面等离子体波显微镜 [P]. 
郭继华 ;
郭峻 ;
王东生 ;
隋森芳 .
中国专利 :CN1342897A ,2002-04-03
[10]
基于人工表面等离子体的太赫兹波调制方法、器件及装置 [P]. 
杨涛 ;
蒋冰 ;
李兴鳌 ;
黄维 ;
何浩培 ;
周馨慧 .
中国专利 :CN104570406A ,2015-04-29