缺陷检测方法及装置

被引：0

申请号：

CN202210589644.3

申请日：

2022-05-26

公开(公告)号：

CN114863420A

公开(公告)日：

2022-08-05

发明(设计)人：

孙明珊暴天鹏吴立威

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室

IPC主分类号：

G06V2064

IPC分类号：

G06V2010 G06V10764 G06V1025 G06V1082 G06V1040 G06T700 G06T711 G06N308

代理机构：

北京博思佳知识产权代理有限公司 11415

代理人：

韩梦旭

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06V 20/64 申请日:20220526
2022-08-05	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法及装置 [P].

孙明珊 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN114863420B ,2025-04-15

[2]

缺陷检测方法及装置 [P].

刘童 .

中国专利 :CN114881996B ,2025-04-08

[3]

缺陷检测方法及装置 [P].

刘童 .

中国专利 :CN114881996A ,2022-08-09

[4]

一种缺陷检测方法、装置及设备 [P].

安宁 ;

秦燕亮 ;

李义 ;

陈培培 ;

李宣令 .

中国专利 :CN119832304B ,2025-09-23

[5]

一种缺陷检测方法、装置及设备 [P].

安宁 ;

秦燕亮 ;

李义 ;

陈培培 ;

李宣令 .

中国专利 :CN119832304A ,2025-04-15

[6]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[7]

皮革织物表面缺陷检测方法、装置、设备及产品 [P].

刘义凡 ;

李皞 ;

杨可 ;

康镇 ;

黄梦真 .

中国专利 :CN119168949A ,2024-12-20

[8]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P].

郑贤超 ;

葛亮 .

中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05

[9]

电子器件的缺陷检测方法、装置、光学检测设备及介质 [P].

胥贵勋 ;

赵启东 ;

李正义 ;

谢飞学 ;

张文超 ;

王昕 ;

许毅 ;

赵春辉 ;

袁海东 .

中国专利 :CN119831926A ,2025-04-15

[10]

缺陷检测方法和用于缺陷检测的模型训练方法 [P].

肖慧慧 ;

聂磊 ;

黄锋 .

中国专利 :CN111833306A ,2020-10-27

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