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缺陷检测方法及装置

被引：0
申请号：
CN202210578969.1
申请日：
2022-05-25
公开(公告)号：
CN114881996A
公开(公告)日：
2022-08-09
发明(设计)人：
刘童
申请人：
申请人地址：
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
IPC主分类号：
G06T700
IPC分类号：
G06V1075 G06V10764 G06V1082
代理机构：
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274
代理人：
申健
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-08-26 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220525
2022-08-09 公开 公开
共 50 条
[1]
缺陷检测方法及装置 [P]. 
刘童 .
中国专利 :CN114881996B ,2025-04-08
[2]
缺陷检测方法及装置 [P]. 
孙明珊 ;
暴天鹏 ;
吴立威 .
中国专利 :CN114863420B ,2025-04-15
[3]
缺陷检测方法及装置 [P]. 
孙明珊 ;
暴天鹏 ;
吴立威 .
中国专利 :CN114863420A ,2022-08-05
[4]
关键帧检测、PCB板缺陷检测方法、装置及设备 [P]. 
马玲玉 ;
王超 ;
梁浩飞 ;
王振龙 .
中国专利 :CN119130980A ,2024-12-13
[5]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P]. 
郑贤超 ;
葛亮 .
中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05
[6]
一种缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
杨朝兴 .
中国专利 :CN117288757B ,2024-08-13
[7]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
中国专利 :CN111323423A ,2020-06-23
[8]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
山崎隆一 .
中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09
[9]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
日本专利 :CN111323423B ,2024-01-30
[10]
缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P]. 
杨学红 .
中国专利 :CN109726131B ,2019-05-07
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