缺陷检测装置及缺陷检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201911283887.9
申请日
2019-12-13
公开(公告)号
CN111323423A
公开(公告)日
2020-06-23
发明(设计)人
久利龙平
申请人
申请人地址
日本东京
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01B1100
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
车美灵
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
日本专利 :CN111323423B ,2024-01-30
[2]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
梅红伟 ;
涂彦昕 ;
胡伟 ;
刘健犇 ;
刘立帅 ;
王黎明 .
中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19
[3]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
张勤 ;
付翔宇 ;
李国军 .
中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30
[4]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
山崎隆一 .
中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09
[5]
缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P]. 
杨学红 .
中国专利 :CN109726131B ,2019-05-07
[6]
缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P]. 
高志豪 ;
邓亦书 .
中国专利 :CN104914106A ,2015-09-16
[7]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
林彬 ;
于大维 ;
张凯 .
中国专利 :CN115541584A ,2022-12-30
[8]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
何伟 .
中国专利 :CN109856877A ,2019-06-07
[9]
缺陷检测装置、缺陷修正装置及缺陷检测方法 [P]. 
大庭博明 .
中国专利 :CN103630542A ,2014-03-12
[10]
缺陷检测装置、缺陷检测方法 [P]. 
永田泰昭 ;
佐藤雄伍 .
中国专利 :CN104350381B ,2015-02-11