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缺陷检测装置及缺陷检测方法
被引:0
申请号
:
CN202110739531.2
申请日
:
2021-06-30
公开(公告)号
:
CN115541584A
公开(公告)日
:
2022-12-30
发明(设计)人
:
林彬
于大维
张凯
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张东路1525号
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
代理机构
:
上海思捷知识产权代理有限公司 31295
代理人
:
郑星
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-20
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20210630
2022-12-30
公开
公开
共 50 条
[1]
缺陷检测装置和缺陷检测方法
[P].
远藤一正
论文数:
0
引用数:
0
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0
远藤一正
;
持田大作
论文数:
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持田大作
;
吉川透
论文数:
0
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吉川透
;
柴田浩匡
论文数:
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柴田浩匡
;
河井章利
论文数:
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0
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河井章利
.
中国专利
:CN101490538A
,2009-07-22
[2]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
梅红伟
论文数:
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梅红伟
;
涂彦昕
论文数:
0
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涂彦昕
;
胡伟
论文数:
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胡伟
;
刘健犇
论文数:
0
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0
刘健犇
;
刘立帅
论文数:
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刘立帅
;
王黎明
论文数:
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0
王黎明
.
中国专利
:CN110031511B
,2019-07-19
[3]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法
[P].
张勤
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机构:
苏州凌云光工业智能技术有限公司
苏州凌云光工业智能技术有限公司
张勤
;
付翔宇
论文数:
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机构:
苏州凌云光工业智能技术有限公司
苏州凌云光工业智能技术有限公司
付翔宇
;
李国军
论文数:
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0
机构:
苏州凌云光工业智能技术有限公司
苏州凌云光工业智能技术有限公司
李国军
.
中国专利
:CN117949458A
,2024-04-30
[4]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
久利龙平
论文数:
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0
久利龙平
.
中国专利
:CN111323423A
,2020-06-23
[5]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
山崎隆一
论文数:
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山崎隆一
.
中国专利
:CN101600957A
,2009-12-09
[6]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
久利龙平
论文数:
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引用数:
0
h-index:
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机构:
精工爱普生株式会社
精工爱普生株式会社
久利龙平
.
日本专利
:CN111323423B
,2024-01-30
[7]
缺陷检测方法及缺陷检测装置
[P].
杨学红
论文数:
0
引用数:
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杨学红
.
中国专利
:CN109726131B
,2019-05-07
[8]
缺陷检测方法及缺陷检测装置
[P].
高志豪
论文数:
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高志豪
;
邓亦书
论文数:
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0
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邓亦书
.
中国专利
:CN104914106A
,2015-09-16
[9]
缺陷检测装置及缺陷检测方法
[P].
何伟
论文数:
0
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何伟
.
中国专利
:CN109856877A
,2019-06-07
[10]
缺陷检测装置、缺陷修正装置及缺陷检测方法
[P].
大庭博明
论文数:
0
引用数:
0
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大庭博明
.
中国专利
:CN103630542A
,2014-03-12
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