缺陷检测装置及缺陷检测方法

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申请号
CN202110739531.2
申请日
2021-06-30
公开(公告)号
CN115541584A
公开(公告)日
2022-12-30
发明(设计)人
林彬 于大维 张凯
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区张东路1525号
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
代理机构
上海思捷知识产权代理有限公司 31295
代理人
郑星
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检测装置和缺陷检测方法 [P]. 
远藤一正 ;
持田大作 ;
吉川透 ;
柴田浩匡 ;
河井章利 .
中国专利 :CN101490538A ,2009-07-22
[2]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
梅红伟 ;
涂彦昕 ;
胡伟 ;
刘健犇 ;
刘立帅 ;
王黎明 .
中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19
[3]
缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P]. 
张勤 ;
付翔宇 ;
李国军 .
中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30
[4]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
中国专利 :CN111323423A ,2020-06-23
[5]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
山崎隆一 .
中国专利 :CN101600957A ,2009-12-09
[6]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
久利龙平 .
日本专利 :CN111323423B ,2024-01-30
[7]
缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P]. 
杨学红 .
中国专利 :CN109726131B ,2019-05-07
[8]
缺陷检测方法及缺陷检测装置 [P]. 
高志豪 ;
邓亦书 .
中国专利 :CN104914106A ,2015-09-16
[9]
缺陷检测装置及缺陷检测方法 [P]. 
何伟 .
中国专利 :CN109856877A ,2019-06-07
[10]
缺陷检测装置、缺陷修正装置及缺陷检测方法 [P]. 
大庭博明 .
中国专利 :CN103630542A ,2014-03-12