共 50 条
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缺陷检测方法及缺陷检测装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910004082.X
申请日：
2019-01-03
公开(公告)号：
CN109726131B
公开(公告)日：
2019-05-07
发明(设计)人：
杨学红
申请人：
申请人地址：
100033 北京市西城区金融大街21号
IPC主分类号：
G06F1136
IPC分类号：
代理机构：
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人：
彭瑞欣;刘悦晗
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-05-07 | 公开 | 公开 |
| 2022-04-01 | 授权 | 授权 |
| 2019-05-31 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20190103 |