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用于电气部件测试的插座
被引:0
申请号
:
CN202110273629.3
申请日
:
2021-03-11
公开(公告)号
:
CN115084914A
公开(公告)日
:
2022-09-20
发明(设计)人
:
谢印洲
申请人
:
申请人地址
:
日本东京
IPC主分类号
:
H01R13502
IPC分类号
:
H01R1346
代理机构
:
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413
代理人
:
袁波;刘继富
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-20
公开
公开
共 50 条
[1]
用于电气部件测试的插座
[P].
谢印洲
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢印洲
;
谢明华
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢明华
.
中国专利
:CN115084912A
,2022-09-20
[2]
用于电气部件测试的插座
[P].
谢印洲
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢印洲
.
中国专利
:CN115084913A
,2022-09-20
[3]
用于电气部件测试的插座
[P].
谢印洲
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢印洲
.
中国专利
:CN115084911A
,2022-09-20
[4]
接触探针及用于电气部件测试的插座
[P].
陈楚玉
论文数:
0
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0
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0
机构:
恩普乐斯股份有限公司
恩普乐斯股份有限公司
陈楚玉
;
井上优太
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
恩普乐斯股份有限公司
恩普乐斯股份有限公司
井上优太
.
日本专利
:CN118091211A
,2024-05-28
[5]
接触探针及用于电气部件测试的插座
[P].
方经军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州斯丹德电子科技有限公司
苏州斯丹德电子科技有限公司
方经军
.
中国专利
:CN120352651A
,2025-07-22
[6]
接触探针及用于电气部件测试的插座
[P].
井上优太
论文数:
0
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井上优太
;
坂本泰之
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坂本泰之
;
三浦玲
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三浦玲
;
小畑圭史
论文数:
0
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小畑圭史
;
小松泰成
论文数:
0
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0
h-index:
0
小松泰成
.
中国专利
:CN115144620A
,2022-10-04
[7]
一种用于电气部件测试的插座
[P].
方经军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州斯丹德电子科技有限公司
苏州斯丹德电子科技有限公司
方经军
.
中国专利
:CN223037995U
,2025-06-27
[8]
接触探针及用于电气部件测试的插座
[P].
井上优太
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
恩普乐斯股份有限公司
恩普乐斯股份有限公司
井上优太
;
小松泰成
论文数:
0
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0
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0
机构:
恩普乐斯股份有限公司
恩普乐斯股份有限公司
小松泰成
;
坂本泰之
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
恩普乐斯股份有限公司
恩普乐斯股份有限公司
坂本泰之
.
日本专利
:CN118777649A
,2024-10-15
[9]
用于测试电气部件的电气接头
[P].
张雨时
论文数:
0
引用数:
0
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张雨时
;
刘启峰
论文数:
0
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0
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0
刘启峰
.
中国专利
:CN106249002A
,2016-12-21
[10]
电气部件插座
[P].
大野博久
论文数:
0
引用数:
0
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0
大野博久
.
中国专利
:CN102157853A
,2011-08-17
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