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接触探针及用于电气部件测试的插座

被引：0
申请号：
CN202111319070.X
申请日：
2021-11-09
公开(公告)号：
CN115144620A
公开(公告)日：
2022-10-04
发明(设计)人：
井上优太 坂本泰之 三浦玲 小畑圭史 小松泰成
申请人：
申请人地址：
日本东京
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R1067
代理机构：
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413
代理人：
袁波;刘继富
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-10-04 公开 公开
共 50 条
[1]
接触探针及用于电气部件测试的插座 [P]. 
陈楚玉 ;
井上优太 .
日本专利 :CN118091211A ,2024-05-28
[2]
接触探针及用于电气部件测试的插座 [P]. 
方经军 .
中国专利 :CN120352651A ,2025-07-22
[3]
接触探针及用于电气部件测试的插座 [P]. 
井上优太 ;
小松泰成 ;
坂本泰之 .
日本专利 :CN118777649A ,2024-10-15
[4]
用于电气部件测试的插座 [P]. 
谢印洲 .
中国专利 :CN115084914A ,2022-09-20
[5]
用于电气部件测试的插座 [P]. 
谢印洲 ;
谢明华 .
中国专利 :CN115084912A ,2022-09-20
[6]
用于电气部件测试的插座 [P]. 
谢印洲 .
中国专利 :CN115084913A ,2022-09-20
[7]
用于电气部件测试的插座 [P]. 
谢印洲 .
中国专利 :CN115084911A ,2022-09-20
[8]
电接触元件及电气部件用插座 [P]. 
小田享弘 .
中国专利 :CN105051982B ,2015-11-11
[9]
一种用于电气部件测试的插座 [P]. 
方经军 .
中国专利 :CN223037995U ,2025-06-27
[10]
用于测试头的接触探针 [P]. 
朱塞佩·克里帕 .
中国专利 :CN107257928B ,2017-10-17
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