用于测试头的接触探针

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201580070711.9
申请日
2015-12-14
公开(公告)号
CN107257928B
公开(公告)日
2017-10-17
发明(设计)人
朱塞佩·克里帕
申请人
申请人地址
意大利莱科
IPC主分类号
G01R1067
IPC分类号
代理机构
北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400
代理人
葛强;雷丽
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
用于测试头的接触探针和用于实现接触探针的方法 [P]. 
朱塞佩·克里帕 ;
斯太法罗·费利奇 .
中国专利 :CN100510755C ,2007-03-21
[2]
用于测试头的接触探针 [P]. 
罗伯特·克里帕 ;
朱塞佩·克里帕 ;
拉斐尔·瓦劳利 .
中国专利 :CN107580680A ,2018-01-12
[3]
用于测试高频装置的测试头的接触探针 [P]. 
罗伯特·克里帕 ;
弗拉维奥·马焦尼 ;
安德莉亚·伽龙 .
中国专利 :CN111344578A ,2020-06-26
[4]
用于测试头的接触探针和相应的制造方法 [P]. 
罗伯特·克里帕 ;
拉斐尔·瓦劳利 ;
埃马努埃莱·贝塔雷利 .
中国专利 :CN106662602A ,2017-05-10
[5]
用于测试头的接触探针的制造方法 [P]. 
拉斐尔·乌巴尔多·瓦劳利 .
中国专利 :CN107250809A ,2017-10-13
[6]
用于测试电子器件的测试头的接触探针 [P]. 
法比奥·莫甘娜 .
中国专利 :CN111492251A ,2020-08-04
[7]
一种接触探针、测试头及接触探针的制造方法 [P]. 
周明 .
中国专利 :CN108593980A ,2018-09-28
[8]
接触探针和引导孔之间的接触改进型测试头 [P]. 
罗伯特·克里帕 .
中国专利 :CN114829951A ,2022-07-29
[9]
包括用于测试头的多个接触探针的半成品及相关制造方法 [P]. 
朱塞佩·克里帕 ;
罗伯特·克里帕 .
中国专利 :CN115575678A ,2023-01-06
[10]
包括用于测试头的多个接触探针的半成品及相关制造方法 [P]. 
朱塞佩·克里帕 ;
罗伯特·克里帕 .
中国专利 :CN107667295A ,2018-02-06