用于测试头的接触探针的制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580071446.6

申请日：

2015-12-29

公开(公告)号：

CN107250809A

公开(公告)日：

2017-10-13

发明(设计)人：

拉斐尔·乌巴尔多·瓦劳利

申请人：

申请人地址：

意大利莱科

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R300

代理机构：

北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400

代理人：

葛强;侯晓艳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-10-13	公开	公开
2017-12-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20151229

共 50 条

[1]

用于测试头的接触探针 [P].

朱塞佩·克里帕 .

中国专利 :CN107257928B ,2017-10-17

[2]

用于测试头的接触探针 [P].

罗伯特·克里帕 ;

朱塞佩·克里帕 ;

拉斐尔·瓦劳利 .

中国专利 :CN107580680A ,2018-01-12

[3]

用于测试头的接触探针和相应的制造方法 [P].

罗伯特·克里帕 ;

拉斐尔·瓦劳利 ;

埃马努埃莱·贝塔雷利 .

中国专利 :CN106662602A ,2017-05-10

[4]

一种接触探针、测试头及接触探针的制造方法 [P].

周明 .

中国专利 :CN108593980A ,2018-09-28

[5]

包括用于测试头的多个接触探针的半成品及相关制造方法 [P].

朱塞佩·克里帕 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN115575678A ,2023-01-06

[6]

包括用于测试头的多个接触探针的半成品及相关制造方法 [P].

朱塞佩·克里帕 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN107667295A ,2018-02-06

[7]

用于测试头的接触探针和用于实现接触探针的方法 [P].

朱塞佩·克里帕 ;

斯太法罗·费利奇 .

中国专利 :CN100510755C ,2007-03-21

[8]

用于测试高频装置的测试头的接触探针 [P].

罗伯特·克里帕 ;

弗拉维奥·马焦尼 ;

安德莉亚·伽龙 .

中国专利 :CN111344578A ,2020-06-26

[9]

用于测试电子器件的测试头的接触探针 [P].

法比奥·莫甘娜 .

中国专利 :CN111492251A ,2020-08-04

[10]

用于制造接触探针的方法 [P].

千叶幸文 ;

新田耕司 ;

德田健之 .

中国专利 :CN103270422A ,2013-08-28

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