用于制造接触探针的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201280004195.6

申请日：

2012-08-16

公开(公告)号：

CN103270422A

公开(公告)日：

2013-08-28

发明(设计)人：

千叶幸文新田耕司德田健之

申请人：

申请人地址：

日本大阪府大阪市

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

王伟;安翔

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-08-28	公开	公开
2014-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101582237997 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2012800041956 申请日:20120816
2016-05-11	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101732260862 IPC(主分类):G01R 1/067 专利申请号:2012800041956 申请公布日:20130828

共 50 条

[1]

用于测试头的接触探针的制造方法 [P].

拉斐尔·乌巴尔多·瓦劳利 .

中国专利 :CN107250809A ,2017-10-13

[2]

接触探针、接触件、接触件的制造方法及探针系统 [P].

苏正年 ;

林忠麒 ;

吴卿华 ;

徐先达 .

中国专利 :CN119438649A ,2025-02-14

[3]

用于测试头的接触探针和用于实现接触探针的方法 [P].

朱塞佩·克里帕 ;

斯太法罗·费利奇 .

中国专利 :CN100510755C ,2007-03-21

[4]

用于测试头的接触探针和相应的制造方法 [P].

罗伯特·克里帕 ;

拉斐尔·瓦劳利 ;

埃马努埃莱·贝塔雷利 .

中国专利 :CN106662602A ,2017-05-10

[5]

电子器件探针头用接触探针的制造方法及相应的接触探针 [P].

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN114222923A ,2022-03-22

[6]

一种接触探针、测试头及接触探针的制造方法 [P].

周明 .

中国专利 :CN108593980A ,2018-09-28

[7]

用于测试头的接触探针 [P].

朱塞佩·克里帕 .

中国专利 :CN107257928B ,2017-10-17

[8]

用于测试头的接触探针 [P].

罗伯特·克里帕 ;

朱塞佩·克里帕 ;

拉斐尔·瓦劳利 .

中国专利 :CN107580680A ,2018-01-12

[9]

探针的制造方法和探针 [P].

西正之 ;

平尾一之 ;

寺西大介 ;

板坂浩树 ;

中庸行 ;

奥野义人 ;

柏木伸介 ;

中田靖 .

中国专利 :CN109416326B ,2019-03-01

[10]

包括用于测试头的多个接触探针的半成品及相关制造方法 [P].

朱塞佩·克里帕 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN115575678A ,2023-01-06

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