用于测试电子器件的测试头的接触探针

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880081701.9

申请日：

2018-12-03

公开(公告)号：

CN111492251A

公开(公告)日：

2020-08-04

发明(设计)人：

法比奥·莫甘娜

申请人：

申请人地址：

意大利莱科

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400

代理人：

方挺;黄谦

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-04	公开	公开
2020-12-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20181203

共 50 条

[1]

用于电子器件测试设备的探针卡 [P].

弗拉维奥·马焦尼 .

:CN120513394A ,2025-08-19

[2]

用于测试电子器件的装置的测试头 [P].

达尼埃莱·佩雷戈 .

中国专利 :CN109564241B ,2019-04-02

[3]

电子器件的测试头 [P].

斯太法罗·费利奇 ;

拉斐尔·瓦劳利 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN105102990A ,2015-11-25

[4]

用于电子器件的测试装置的探针卡 [P].

里卡尔多·李博瑞尼 .

中国专利 :CN110573890B ,2019-12-13

[5]

接触探针和用于测试电子器件的装置的相关探头 [P].

罗伯特·克里帕 ;

拉斐尔·瓦劳利 .

中国专利 :CN110662969B ,2020-01-07

[6]

用于测试高频装置的测试头的接触探针 [P].

罗伯特·克里帕 ;

弗拉维奥·马焦尼 ;

安德莉亚·伽龙 .

中国专利 :CN111344578A ,2020-06-26

[7]

用于测试头的接触探针 [P].

朱塞佩·克里帕 .

中国专利 :CN107257928B ,2017-10-17

[8]

用于测试头的接触探针 [P].

罗伯特·克里帕 ;

朱塞佩·克里帕 ;

拉斐尔·瓦劳利 .

中国专利 :CN107580680A ,2018-01-12

[9]

一种接触探针、测试头及接触探针的制造方法 [P].

周明 .

中国专利 :CN108593980A ,2018-09-28

[10]

用于测试电子器件的探针卡组件 [P].

范立 ;

达西·凯利-格林 ;

爱德华·米洛维克 ;

穆卡什·塞尔瓦拉 ;

吉姆·张 ;

长井源作 .

中国专利 :CN105531593A ,2016-04-27

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