用于电子器件测试设备的探针卡

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380087388.0

申请日：

2023-12-14

公开(公告)号：

CN120513394A

公开(公告)日：

2025-08-19

发明(设计)人：

弗拉维奥·马焦尼

申请人：

泰克诺探头公司

申请人地址：

意大利莱科

IPC主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/44

代理机构：

北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400

代理人：

江亚男;方挺

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-19	公开	公开
2025-12-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/073申请日:20231214

共 50 条

[1]

用于电子器件的探针卡 [P].

罗伯特·克里帕 ;

斯太法罗·费利奇 .

中国专利 :CN109564242A ,2019-04-02

[2]

用于电子器件的测试装置的探针卡 [P].

里卡尔多·李博瑞尼 .

中国专利 :CN110573890B ,2019-12-13

[3]

用于电子器件的测试设备的探针卡多层结构的制造方法 [P].

罗伯特·克里帕 ;

弗拉维奥·马焦尼 ;

拉斐尔·瓦劳利 .

中国专利 :CN110612452B ,2019-12-24

[4]

用于测试电子器件的探针卡组件 [P].

范立 ;

达西·凯利-格林 ;

爱德华·米洛维克 ;

穆卡什·塞尔瓦拉 ;

吉姆·张 ;

长井源作 .

中国专利 :CN105531593A ,2016-04-27

[5]

用于电子器件的测试装置的高平面性探针卡 [P].

里卡尔多·李博瑞尼 ;

菲利波·戴尔奥尔托 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN106104280A ,2016-11-09

[6]

用于测试电子器件的测试头的接触探针 [P].

法比奥·莫甘娜 .

中国专利 :CN111492251A ,2020-08-04

[7]

特别用于极端温度应用的用于电子器件的测试装置的探针卡 [P].

里卡尔多·李博瑞尼 ;

拉斐尔·瓦劳利 ;

朱塞佩·克里帕 .

中国专利 :CN107533100A ,2018-01-02

[8]

电子器件用探针头及相应的探针卡 [P].

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN114207452A ,2022-03-18

[9]

电子器件的测试头 [P].

斯太法罗·费利奇 ;

拉斐尔·瓦劳利 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN105102990A ,2015-11-25

[10]

具有改进热管理的电子器件的测试装置探针卡 [P].

斯太法罗·费利奇 ;

弗拉维奥·马焦尼 .

:CN120303567A ,2025-07-11

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