用于测试电子器件的装置的测试头

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780048925.5

申请日：

2017-08-07

公开(公告)号：

CN109564241B

公开(公告)日：

2019-04-02

发明(设计)人：

达尼埃莱·佩雷戈

申请人：

申请人地址：

意大利莱科

IPC主分类号：

G01R1067

IPC分类号：

G01R1073 H01R1324 H01R1342

代理机构：

北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400

代理人：

方挺;黄谦

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/067 申请日:20170807
2022-08-09	授权	授权
2019-04-02	公开	公开

共 50 条

[1]

电子器件的测试头 [P].

斯太法罗·费利奇 ;

拉斐尔·瓦劳利 ;

罗伯特·克里帕 .

中国专利 :CN105102990A ,2015-11-25

[2]

用于测试电子器件的测试头的接触探针 [P].

法比奥·莫甘娜 .

中国专利 :CN111492251A ,2020-08-04

[3]

用于电子器件的测试装置的探针卡 [P].

里卡尔多·李博瑞尼 .

中国专利 :CN110573890B ,2019-12-13

[4]

用于电子器件测试设备的探针卡 [P].

弗拉维奥·马焦尼 .

:CN120513394A ,2025-08-19

[5]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN103226178B ,2013-07-31

[6]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN102236034A ,2011-11-09

[7]

用于执行测试的电子器件 [P].

姜珉秀 ;

郭鲁侠 ;

金显承 ;

徐踊颢 .

中国专利 :CN115453303A ,2022-12-09

[8]

用于电子器件的测试系统 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN103226177B ,2013-07-31

[9]

用于测试电子器件的设备 [P].

郑丞现 ;

李勋择 ;

朴范洙 ;

李智数 .

韩国专利 :CN119375567A ,2025-01-28

[10]

用于测试电子器件的系统 [P].

R·M·默滕斯 ;

J·E·小孔兹 .

中国专利 :CN108663593A ,2018-10-16

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