用于电子器件的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110089349.3

申请日：

2011-04-11

公开(公告)号：

CN102236034A

公开(公告)日：

2011-11-09

发明(设计)人：

史泽棠蔡培伟陈天宜司徒伟康卓佐宪

申请人：

申请人地址：

中国香港新界葵涌工业街16-22号屈臣氏中心20楼

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

北京申翔知识产权代理有限公司 11214

代理人：

周春发

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-11-09	公开	公开
2011-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101158512468 IPC(主分类):G01R 1/04 专利申请号:2011100893493 申请日:20110411
2014-03-19	授权	授权

共 50 条

[1]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN103226178B ,2013-07-31

[2]

电子器件的测试装置 [P].

李兆宽 .

中国专利 :CN223139735U ,2025-07-22

[3]

电子器件的测试装置 [P].

蔡逸峰 ;

沈玉洁 .

中国专利 :CN216082997U ,2022-03-18

[4]

电子器件测试装置 [P].

罗建文 .

中国专利 :CN213689797U ,2021-07-13

[5]

测试装置及电子器件 [P].

渡边大辅 ;

冈安俊幸 .

中国专利 :CN101646954A ,2010-02-10

[6]

电子器件恒温测试装置 [P].

汪袁林 .

中国专利 :CN206515419U ,2017-09-22

[7]

用于电子器件的测试装置的探针卡 [P].

里卡尔多·李博瑞尼 .

中国专利 :CN110573890B ,2019-12-13

[8]

电子器件成品连片测试装置 [P].

王颜伟 .

中国专利 :CN206489233U ,2017-09-12

[9]

一种电子器件的测试装置 [P].

李鹏 ;

鞠洪德 ;

谭树海 ;

王强强 ;

魏云峰 .

中国专利 :CN113359006A ,2021-09-07

[10]

电子器件测试装置与电子测试装置中的温度控制方法 [P].

细田滋 ;

小川正章 .

中国专利 :CN101248361A ,2008-08-20

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