电子器件测试装置与电子测试装置中的温度控制方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200580051403.8

申请日：

2005-08-25

公开(公告)号：

CN101248361A

公开(公告)日：

2008-08-20

发明(设计)人：

细田滋小川正章

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

杜日新

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-08-20	公开	公开
2011-08-17	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101177302946 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2005800514038 公开日:20080820
2008-10-15	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

电子器件测试装置 [P].

罗建文 .

中国专利 :CN213689797U ,2021-07-13

[2]

电子器件的测试装置 [P].

李兆宽 .

中国专利 :CN223139735U ,2025-07-22

[3]

电子器件的测试装置 [P].

蔡逸峰 ;

沈玉洁 .

中国专利 :CN216082997U ,2022-03-18

[4]

测试装置及电子器件 [P].

渡边大辅 ;

冈安俊幸 .

中国专利 :CN101646954A ,2010-02-10

[5]

电子器件恒温测试装置 [P].

汪袁林 .

中国专利 :CN206515419U ,2017-09-22

[6]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN103226178B ,2013-07-31

[7]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN102236034A ,2011-11-09

[8]

电子器件成品连片测试装置 [P].

王颜伟 .

中国专利 :CN206489233U ,2017-09-12

[9]

电子器件测试装置、设备和方法 [P].

C·沃尔特·芬克 .

中国专利 :CN100559201C ,2006-04-19

[10]

电子器件稳定性测试装置 [P].

彭代信 .

中国专利 :CN206270430U ,2017-06-20

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