电子器件成品连片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720122564.1

申请日：

2017-02-09

公开(公告)号：

CN206489233U

公开(公告)日：

2017-09-12

发明(设计)人：

王颜伟

申请人：

申请人地址：

510530 广东省广州市黄埔区云埔工业区天生路1号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

胡辉;郑泽萍

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-09-12	授权	授权

共 50 条

[1]

电子器件测试装置 [P].

罗建文 .

中国专利 :CN213689797U ,2021-07-13

[2]

电子器件恒温测试装置 [P].

汪袁林 .

中国专利 :CN206515419U ,2017-09-22

[3]

电子器件的测试装置 [P].

蔡逸峰 ;

沈玉洁 .

中国专利 :CN216082997U ,2022-03-18

[4]

测试装置及电子器件 [P].

渡边大辅 ;

冈安俊幸 .

中国专利 :CN101646954A ,2010-02-10

[5]

电子器件的测试装置 [P].

李兆宽 .

中国专利 :CN223139735U ,2025-07-22

[6]

电子器件稳定性测试装置 [P].

彭代信 .

中国专利 :CN206270430U ,2017-06-20

[7]

光电子器件性能测试装置 [P].

尹越鹏 ;

尹小红 ;

尹小文 .

中国专利 :CN223346990U ,2025-09-16

[8]

一种光电子器件测试装置 [P].

董路兵 .

中国专利 :CN210323264U ,2020-04-14

[9]

一种光电子器件生产用成品测试装置 [P].

左璠 ;

杨明 .

中国专利 :CN216133109U ,2022-03-25

[10]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN103226178B ,2013-07-31

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