一种光电子器件测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920595764.8

申请日：

2019-04-25

公开(公告)号：

CN210323264U

公开(公告)日：

2020-04-14

发明(设计)人：

董路兵

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区西乡街道航空路东30号同安物流A栋212

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙) 44411

代理人：

曹勇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-14	授权	授权

共 50 条

[1]

光电子器件性能测试装置 [P].

尹越鹏 ;

尹小红 ;

尹小文 .

中国专利 :CN223346990U ,2025-09-16

[2]

一种光电子器件测试装置 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN222049499U ,2024-11-22

[3]

一种光电子器件测试装置 [P].

吴迪 .

中国专利 :CN113899979A ,2022-01-07

[4]

一种100G光电子器件测试装置 [P].

张园海 ;

舒志浩 .

中国专利 :CN207866970U ,2018-09-14

[5]

光电子器件测试设备 [P].

冉茂武 .

中国专利 :CN214473679U ,2021-10-22

[6]

一种光电子器件的测试装置 [P].

董路兵 ;

宗威 ;

江颖欣 .

中国专利 :CN118961126B ,2025-07-22

[7]

一种光电子器件的测试装置 [P].

董路兵 ;

宗威 ;

江颖欣 .

中国专利 :CN118961126A ,2024-11-15

[8]

一种光电子器件生产用成品测试装置 [P].

左璠 ;

杨明 .

中国专利 :CN216133109U ,2022-03-25

[9]

一种用于光电子器件制造的测试装置 [P].

李文平 .

中国专利 :CN221124789U ,2024-06-11

[10]

一种集成光电子器件制造用测试装置 [P].

潘玉英 ;

刘娟 .

中国专利 :CN216050608U ,2022-03-15

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