一种光电子器件测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010570513.1
申请日
2020-06-21
公开(公告)号
CN113899979A
公开(公告)日
2022-01-07
发明(设计)人
吴迪
申请人
申请人地址
221400 江苏省南京市新沂市北沟镇太行山路北侧珠江路东侧
IPC主分类号
G01R3101
IPC分类号
G01R104 G01M1100
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种光电子器件测试装置 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN222049499U ,2024-11-22
[2]
光电子器件性能测试装置 [P]. 
尹越鹏 ;
尹小红 ;
尹小文 .
中国专利 :CN223346990U ,2025-09-16
[3]
一种光电子器件测试装置 [P]. 
董路兵 .
中国专利 :CN210323264U ,2020-04-14
[4]
一种光电子器件的测试装置 [P]. 
董路兵 ;
宗威 ;
江颖欣 .
中国专利 :CN118961126B ,2025-07-22
[5]
一种光电子器件的测试装置 [P]. 
董路兵 ;
宗威 ;
江颖欣 .
中国专利 :CN118961126A ,2024-11-15
[6]
一种半导体光电子器件的测试装置 [P]. 
许平平 ;
漆启年 ;
李同宁 ;
游毓麒 .
中国专利 :CN221945532U ,2024-11-01
[7]
光电子器件测试设备 [P]. 
冉茂武 .
中国专利 :CN214473679U ,2021-10-22
[8]
一种光电子器件生产用成品测试装置 [P]. 
左璠 ;
杨明 .
中国专利 :CN216133109U ,2022-03-25
[9]
一种用于光电子器件制造的测试装置 [P]. 
李文平 .
中国专利 :CN221124789U ,2024-06-11
[10]
一种100G光电子器件测试装置 [P]. 
张园海 ;
舒志浩 .
中国专利 :CN207866970U ,2018-09-14