电子器件的测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202121358252.3

申请日：

2021-06-18

公开(公告)号：

CN216082997U

公开(公告)日：

2022-03-18

发明(设计)人：

蔡逸峰沈玉洁

申请人：

申请人地址：

214028 江苏省无锡市无锡国家高新技术产业开发区54号地块

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

龙淳;徐飞跃

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-18	授权	授权

共 50 条

[1]

电子器件测试装置 [P].

罗建文 .

中国专利 :CN213689797U ,2021-07-13

[2]

电子器件恒温测试装置 [P].

汪袁林 .

中国专利 :CN206515419U ,2017-09-22

[3]

电子器件的测试装置 [P].

李兆宽 .

中国专利 :CN223139735U ,2025-07-22

[4]

电子器件成品连片测试装置 [P].

王颜伟 .

中国专利 :CN206489233U ,2017-09-12

[5]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN103226178B ,2013-07-31

[6]

用于电子器件的测试装置 [P].

史泽棠 ;

蔡培伟 ;

陈天宜 ;

司徒伟康 ;

卓佐宪 .

中国专利 :CN102236034A ,2011-11-09

[7]

测试装置及电子器件 [P].

渡边大辅 ;

冈安俊幸 .

中国专利 :CN101646954A ,2010-02-10

[8]

电子器件稳定性测试装置 [P].

彭代信 .

中国专利 :CN206270430U ,2017-06-20

[9]

电子器件测试装置、设备和方法 [P].

C·沃尔特·芬克 .

中国专利 :CN100559201C ,2006-04-19

[10]

光电子器件性能测试装置 [P].

尹越鹏 ;

尹小红 ;

尹小文 .

中国专利 :CN223346990U ,2025-09-16

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