电子器件测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202022528073.1
申请日
2020-11-05
公开(公告)号
CN213689797U
公开(公告)日
2021-07-13
发明(设计)人
罗建文
申请人
申请人地址
215300 江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
G01R3128
代理机构
上海波拓知识产权代理有限公司 31264
代理人
边晓红
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]
电子器件的测试装置 [P]. 
蔡逸峰 ;
沈玉洁 .
中国专利 :CN216082997U ,2022-03-18
[2]
电子器件恒温测试装置 [P]. 
汪袁林 .
中国专利 :CN206515419U ,2017-09-22
[3]
电子器件成品连片测试装置 [P]. 
王颜伟 .
中国专利 :CN206489233U ,2017-09-12
[4]
测试装置及电子器件 [P]. 
渡边大辅 ;
冈安俊幸 .
中国专利 :CN101646954A ,2010-02-10
[5]
电子器件的测试装置 [P]. 
李兆宽 .
中国专利 :CN223139735U ,2025-07-22
[6]
电子器件稳定性测试装置 [P]. 
彭代信 .
中国专利 :CN206270430U ,2017-06-20
[7]
电子器件测试装置、设备和方法 [P]. 
C·沃尔特·芬克 .
中国专利 :CN100559201C ,2006-04-19
[8]
光电子器件性能测试装置 [P]. 
尹越鹏 ;
尹小红 ;
尹小文 .
中国专利 :CN223346990U ,2025-09-16
[9]
用于电子器件的测试装置 [P]. 
史泽棠 ;
蔡培伟 ;
陈天宜 ;
司徒伟康 ;
卓佐宪 .
中国专利 :CN103226178B ,2013-07-31
[10]
用于电子器件的测试装置 [P]. 
史泽棠 ;
蔡培伟 ;
陈天宜 ;
司徒伟康 ;
卓佐宪 .
中国专利 :CN102236034A ,2011-11-09